Analizzatore XRF di Leghe orafe XF- K5
XF-K5 è uno spettrometro XRF di nuova generazione per l’analisi rapida e non distruttiva della gioielleria a titolo. La precisione millesimale e l’applicabilità su oggetti finiti, verghe, semilavorati, trucioli, e monete da investimento ne fanno uno strumento oramai irrinunciabile per l’alta gioielleria, il laboratorio orafo e le grandi fonderie. Nuovo design verticale compatto con apertura frontale verso l’alto e schermo LCD touch-screen reclinabile. Ampia camera di misura con telecamera HD integrata.
- Accuratezza tipica : fino a +/- 1 millesimo da 8K a 24K
- Eccellente rapporto qualità/prezzo
- Detector a stato solido pin diode
- 24 elementi misurati simultaneamente
- Rilevazione possibile placcatura
- PC industriale integrato Quad-Core ARM
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Analizzatore XRF di leghe orafe e delle pietre preziose XF-K7
XF-A7 è uno spettrometro XRF allo stato dell’arte per l’analisi rapida e non distruttiva della gioielleria a titolo. La precisione millesimale e l’applicabilità su oggetti finiti, verghe, semilavorati, trucioli, e monete da investimento ne fanno uno strumento oramai irrinunciabile per l’alta gioielleria, il laboratorio orafo e le grandi fonderie. Nuovo design verticale compatto con apertura frontale verso l’alto e schermo LCD touch-screen reclinabile. L’applicazione dedicata “gem stones” consente, oltre alla distinzione tra pietra naturale o artificiale, di identificarne la provenienza dall’analisi spettrale delle impurezze.
- Accuratezza tipica : fino a +/- 1 millesimo
- Determinazione simultanea in % e Karati
- Visualizzazione e correzione del titolo in tempo reale
- Calcolo automatico del prezzo in base al peso
- Applicazione dedicata all'analisi della gemme
- Rilevazione possibile placcatura
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